TK 6226系列手机维修原理-手机工作原理介绍
射频收发(MT6129)
MT6129是一块高度集成之56个引脚QFN封装之射频处理芯片,支持AMPS,GSM,DCS,PCS 四频;内部括四个低杂讯放大器,两个射频正交混频器,一个信道滤波器,一个可编程增益调节放大器,一个接收机IQ解调器,一个带锁相环之高精度之发射机IQ调制器,外接26MHz基准晶振,集成片上调节器和可编程合成器及VCO。
接收器电路
MT6129接收部分括4个频带之低杂讯放大器,射频正交混频器,片上信道滤波器,增益可编程放大器,二级正交混频器和低通滤波器。使用镜像抑制混频器和滤波器抑制减弱中频干扰,射频采用精确之正交信号,混频器输入输出有效匹配,各频段镜像抑制度均可以达到35dB以上,超低中频设计有效改善阻塞,邻频等干扰,同时减低了对直流偏置校准之要求。
四路低杂讯放大器(LNA)与200欧姆 SAW滤波器之间采用LC网络已达到匹配,LNA具有35dB之可调动态范围。中频增益可编程放大器具备78dB动态范围保证恰当之信号强度用于解调。
发射器电路
MT6129发射部分括一个反馈缓存放大器,一个向下转换混频器,一个正交调制器,一个模拟鉴相器和一个数字相位鉴频器。利用除法器和滤波器从混频器和正交调制器获取期望之中频频率,当给定发射信道时,发射器将从两个不同之发射参考分频数中选择一个进行分频,通过锁相环对发射频率进行锁定后,进入功放放大输出。
频率合成器
MT6129射频频率合成器采用集成之射频压控震荡器产生接收和发射之本地震荡信号频率,
锁相环电路将压控震荡器射频输出通过分频保持和精确之26MHZ基准频率一致,为了减少频率合成器内部杂散信号之产生,增加了预分频电路,分频数在64-127之间可编程,同时为了减少捕捉时间,以应对如GPRS等多时隙数据服务之要求,频率合成器内置了快速捕捉系统。
基带处理(MT6226)
MT6226以双核处理结构为基础,内部同时集成有ARM7EJ-S和数字信号处理两个核心模块。ARM7EJ-S主要负责处理高级GSM/GPRS软件协议之运行和多媒体之应运,数字信号处理器主要是管理相应低级之调制解调模块和音频功能之处理。MT6226内部之各功能模块基本上都是基于这两个处理器之基础上建立起来之。
MT6226子系统之构成如下:
1) 微控制子系统括ARM7EJ-S RISC处理器及其相应之存储管理和中断处理逻辑
2) 数字信号处理子系统括DSP及其相应存储器存储控制器和中断控制器
3) MCU/DSP接口用来交换MCU和DSP之间之软硬件信息
4) MCU外围设备括用户界面模块和射频控制接口模块
5) MCU同步处理器将MCU扩展处理器与MCU保持同步
6) DSP外围设备从硬件上加速对GPRS/GSM信道编码之处理
7) 多媒体子系统集成了几个先进之加速处理器支持多媒体应用
8) 语音回路是模拟话音和数字话音相互转换之过程
9) 音频回路将音频数据源转换成立体声数据
10)食品回路将视频信号数据转换成NTSL/PAL电视制式格式
11)基带回路完成基带数字信号与射频模拟信号之间之转换
12)时间产生器生成与时分复用桢时间相关之控制信号
13)电源,复位,时钟子系统
电源管理(MT6305)
独立专用之电源管理芯片。提供基带电路所需之全部电压、LED驱动、Alerter(震动)驱动、充电管理、以及SIM卡接口等。总共7路LDO(低压降线性稳压器),单独对每个模块供电。充电支持Li(锂电)、NiMH (镍氢电池)。
电源IC结构框图
每一路基带电压不好都可能使手机不能开机,甚至没有法下载开机程序。这也是平时检查手机之一个重点, 除此以外还有基带处理芯片之13MHz工作时钟, 和32KHz都会影响手机开机和程序之下载。因为数字处理电路需要时钟信号才能运行
META工具之使用
META (Mobile Engineering Testing Architecture) ,META是专门之测试工具
RF Tool:
射频万用表万用表测量工具可以协助我们对射频电路之判断,检修过程中使用Continuous RX和 Continuous TX 就可以对射频回路进行万用表万用表测量分析。
Continuous RX用于对手机接收回路之万用表万用表测量,万用表万用表测量需要用到信号源、频谱仪和示波器。频谱仪用来观察接收信号之频谱和幅度,如果由于某个器件之衰减过大,都可以通过示波器万用表万用表测量出来。示波器用来观察接收I/Q信号,在接收状态下可以万用表万用表测量到射频IC(MT6129)之43,44,45,46脚可以看到接收之I/Q信号,对I/Q信号之观察可以判断射频IC之功能是否完整,如果没有I/Q信号输出,基带电路就接收不到任何信号用于解调。
(万用表万用表测量I/Q信号要把Burst mode选中)
BAND 频段之选择GSM900或者DCS1800
ARFCN 信道之选择,GSM900从1到124,DCS1800从512到885。
Gain 增益选择
连续接收
Continuous TX 用来观察发射之I/Q信号,在发射状态下通过示波器可以从射频IC(MT6129)之43,44,45,46脚看到发射之I/Q信号。是一个67KHz之正弦信号,发射之I/Q信号随调制
之数据而变化,从Pattern里面选择不同之调制数据可以看出来。观察I/Q信号可以判断基带部分是否好。用频谱仪从R608看到调制输出之信号(GSM),20信道为之发射频率为894MHz。
测试仪表,PC及电源
测试仪器
- 通用没有线通讯综合测试仪 如:CMU200、Agilent8960
- 信号源
- 频谱分析仪
- HP高频测试探头
- 示波器
- 数字电源
- 万用表
- 夹具
- 电平转换板或USB转换线
仪器设置
必须提供一个外部电源连接到VBAT。一般输出应该设置到直流3.8V;注意限流1.0A左右。 好能使用数字电源,随时可以检测到电流变化。
手机工作原理介绍
射频部分
接收回路:
空间电磁波经过天线转换成电信号,此款手机采用之是内置微带天线,天线根据微带线传输原理1/4波长设计,在900/1800MHZ两个频段附近具有 佳驻波值,信号经过天线切换开关内部之双工器分离成两路信号等待开关进行RX/TX切换。
接收回路中天线与SAW之间是匹配电路,主要完成阻抗匹配及带外抑制,SAW滤波器主要也是起一个带外抑制之作用,SAW之好坏决定了接收机邻频,阻塞等性能。SAW之损耗一般在3-5dB左右,其值及与天线之匹配程度直接影响到接收机之灵敏度。
信号进入MT6129之后首先有一个低杂讯放大(LNA)之过程,LNA之好坏直接影响到接收机信躁比,增益,失真度,稳定度等性能,之后经过第一级混频进入中频放大及中频滤波,而后二次混频及中频放大滤波进入I/Q解调器解调,混频器输入输出隔离度及输入输出匹配和中频滤波性能之好坏直接决定了接收机之镜像抑制和交调等性能。
发射回路:
功放与天线之间之匹配电路阻抗匹配及带外抑制之好坏直接影响到输出功率之大小,功放耗电流之大小以及谐波辐射之大小,功放IC RF3166由CPU输出电压作为其偏置电压,以达到不同功率等级之设置,功放与MT6129一个5DB左右之衰减器作为压控震荡器与功放之间之缓冲,避免功放变化之阻抗影响震荡器之稳定度。
天线开关
它是由双工器,TX-RX开关,低通滤波器组成之。其中TX-RX开关是时分之,并且每个通路被滤波器分离开来。因此它可以起到选择频段选择接收与发送之作用。
对于天线开关来说,有三个 基本之性能指标:
插损(Insert loss):当某一器件或部件接入传输电路后所增加之衰减,单位dB。
隔离度(Isolation):本振或信号泄露到其他端口之功率与原有功率之比,单位dB。
驻波比(VSWR): 大绝对电压值与它之 小值之比,用来衡量部件之间之匹配是否良好 。
天线开关内部结构框图
天线开关控制信号模式表
Switch Mode Vc1 Vc2 Vc3 Vc4
GSM850/900 Tx 0 0 0 1
GSM850 Rx 0 0 1 0
GSM900 Rx 0 0 0 0
DCS/PCS Tx 1 0 0 0
DCS Rx 0 0 0 0
PCS Rx 0 1 0 0
接收通路检查框图
说明:对于接收通路之万用表万用表测量,需要在META之连续接收状态下进行万用表万用表测量。在更换MT6129前先检查射频IC之各电压是否好,以及用示波器观察串行通信之时钟,和数据是否存在。因为IC是贵重物料而且更换难度较大,更换之前要仔细万用表万用表测量,外围之电阻、电容也都要经过焊接上、功能上之检查。
故障分析:
接收电路之测试项括Rx Level,Rx Quality,BER 等。根据信号接收流程框图,与接收电路故障相关之主要元器件有天线开关、三个声表滤波器,射频收发IC以及CPU。
如果RxLevel 差异不大,只有几个dB,大部分是由于器件差异性,而DAC补偿值过小,我们可以应用META进行检修,方法参见上文;
如果RxLevel 差异较大,用META工具调节RF参数没有效,则可能是硬件问题。这时,我们首先要查看是哪个频段出了问题还是所有频段都出问题,方法是用8960万用表万用表测量各个频段之接收信能进行检查,如果灵敏度太低之(参看GSM协议,超出协议规定之),都是有问题之。这是就会有两种情况:
a.个别频段有问题:
此时应先检查该频段回路出现之问题,一般是天线开关以后之通路之问题。
b.所有频段有问题
此时应该更注重于对所有频段都能产生影响之器件之检查分析,如天线开关、射频IC等。
注:如果有条件之话,就用信号发生器和频谱仪逐级对接收回路中之各个元器件对之频响进行万用表万用表测量就可以判断哪个元器件出了问题。
发射通路之检查
说明:对于发射通路之万用表万用表测量,需要在META之连续发射状态下进行万用表万用表测量。在更换MT6129前先检查射频IC之各电压是否好,以及用示波器观察串行通信之时钟,和数据是否好。更换MT6226前要检查各相关电压、时钟是否好,因为IC是贵重物料而且更换难度较大,更换之前要仔细万用表万用表测量,外围之电阻、电容也都要经过焊接上、功能上之检查。