显示器行管损坏的原因

一般来讲造成行管损坏之原因有以下几种：
1.行管质量有难以预见之缺陷,使用中自然损坏。
2.逆程电容容量减小或开路使行逆程脉冲幅度异常升高。
3.行电源电压过高使行逆程脉冲幅度异常升高。
4.行负载短路、漏电引发之过流,这里之行负载是指行输出变压器、偏转线圈、S校正电容等元件。
5.行频过高或过低。
6.行激励不足。
7.行阻尼二极管特性变坏。
8.人为因素。
在实际检修中:
第1种情况:造成行管损坏之主要原因,一般更换行管即可。
第2种情况:引发故障之多是逆程电容开焊造成之。
第3种情况:引发行管击穿较多,特别是采用降压型DC/DC变换电路之行二次开关电源之尤为突出。
当这种电源之开关管击穿时,行管往往因为行电压过高而击穿,而且当行管击穿后也会造成开关管因过流而损坏,两者互为因果,相辅相成,检修时要一一检查,不可遗漏。
值得注意之是当行电源开关管损坏后万用表测量之结果并不都是击穿,个别会表现为D、S极导通压降增大,如不换下也会屡烧行管,我就见过这么一台Apple显示器,换了IRF9630才好。
再有降压型行二次开关电源之储能电感线圈也可能因烧毁而使行电压异常升高,从而损坏行管（有一阶段飞利浦显示器批量损坏这个电感,但好象行管没损坏,可能电路保护设计得好吧）。
第4种情况:首先要说明之是显示器之行输出变压器工艺要求要高于彩电行输出变压器,损坏几率相当低,不应动不动就判定行包损坏。
判断行输出变压器损坏要慎重,因为显示器行输出变压器不但价格较贵而且不易购到,当然行偏转线圈更是如此。
一般多频显示器中至少有两个S校正电容,我们可以依据位置之不同可以分别称之为上S校正电容、下S校正电容。
实践中下S校正电容损坏较多,此时行幅多会发生变化。当下S电容击穿、漏电时行幅变宽,行电流增大,行管工作温度上升,长此以往行管会热击穿。
当然行幅调整管、下阻尼二极管击穿也会造成同样问题。
第6种情况:引发问题之几率很高,第8种情况则不易让人想到。
行管之工作温度与它之基极激励状况息息相关,我曾用示波器观察过ADI、PHILIPS、EMC等多种显示器,发现PHILIPS显示器行管之激励波形近乎完美（相对而言）,其工作温度始终不是很高。
从实践中看PHILIPS显示器行管之问题较少,相比之下同档次之ADI则行管激励波形不是很好,工作温度较高,行管之损坏明显偏多。
这可能是近水楼台先得月吧,因为象BU2508、2520、2522就是PHILIPS之产品。
一般设计为了让行管之饱和截止迅速完成,常在行管与行推动变压器间之限流电阻上并联一个电容及一个反向之二极管。
通常这个电容是有机性之电解电容,容量从几?到几百?,随着使用时间之增加这个电容会出现损耗增加、容量缩减（当其损坏后用指针万用表通常是测不出来之,一般用数字万用表电容挡较易发现问题。
这是因为电容之容量就是采用交流电（好象是1KHz吧）测出之,电容之工作是与频率息息相关之,这些坏电容一般都是高频特性变坏,在低频电路中未必不能使）,行管因为工作条件变坏而剧烈发热,最终热击穿。
而PHILIPS电路中也有加速电容,但那是一只小容量之没有机性电容。
以个别EMC显示器为例,它之波形幅度会小些,但不会影响行管之好工作,为了不走弯路要多积累些实测数据。
在选取电解型加速电容时,如果原位置允许之话,应尽量采用体积大、耐压高之、工作温度高之,并且要避开发热源。这是因为它工作在高频状态下要求严格,如果你摸一下工作中之它,你就知道它本身可能就很热。
实例1。一Wanstrow1428显示器没有光栅,经查行管击穿。将行管更换,数天后行管再次击穿。
检查电源电压没问题,再次上好行管,加电后密切关注行管之温升。发现其短时间内剧烈发热。
怀疑行激励不足,万用表测量串联在行推动变压器与行管基极之加速电容,发现其容量由10?下降为1?。
将其更换,行管温度好了。
实例2。一LEC1428显示器行管击穿,更换行管后交付用户。
大约半个月后用户又将该机返回,经查发现还是行管击穿。
这次将检查范围扩大,逆程电容、S校正电容、行输出、行电源电压都没见异常。
再次更换新行管,加电,行可以工作,但行管温度明显高一些。用示波器测行管之B脚,波形稍显模糊。
在检查行推动级时没有意中测了T601之12V端,发现竟有明显波形,这是不好之。检查行推动级退耦电容C614（100?25V）,发现其容量仅0.2 ?。
更换后12V端波形相当微弱,而行管之B脚波形变得清晰,上升沿、下降沿“干净利索”,长时间工作温度仅是微温。本例也属于行激励不足,从例1、例2可以看出此类故障之典型特点是:不是马上烧行管,但行管工作温度偏高,时间长了行管最终因过热而损坏。这一问题在飞利浦大屏上发生之也是较多之。
实例3。一PANDA CX151显示器出现电源指示灯不亮,且开关电源发出过流保护之声音。
检查行管Q702,它击穿了。更换行管后,继续检查发现Q710（BD677）C、E结击穿,用BD681代用。
加电后图像好,用手摸着散热器监视行管之发热情况,发现时间不长行管已明显烫手。
检查逆程电电容、S校正电容、更换阻尼二极管都没解决问题。
修到这就难以往下进行了,反复考虑后决定测一下行电流是否好。
加电后用2V档测L502（实际安装之是一0.47?电阻）两端,发现行电流开机时增加迅速,且在0.6A时上升速率减小,但并不停止。
那是什么原因造成行电流不断增加之呢？此时突然想起原来之行管是不带阻尼之,于是立即用BU2522AX换下先前上之C5419。这回行电流在0.45A左右长时间稳定不变,行管温度也好了。
我用示波器测了分别上C5419与BU2522时之波形,没发现什么不同。
这种问题还出现在万普、宏基等显示器上,另外我还发现用不带阻尼之行管(外部电路已有阻尼二极管)代用带阻尼之行管一般没什么问题,但也不乏例外。
我在修理一台PANDA
17寸显示器时用BU2522AX代用已损坏之BU2525DF,结果加电就坏了。我又换了一只,还坏,用BU4522AF也是如此。不得已用BU2520DF代用,发现在DOS下工作好,在此希望高手能够解释成因。
实例4。一ADI
CM701显示器没有光栅,经检查行管已击穿了。更换行管后加电试机,发现行管温度较一般显示器稍高。不一会儿光栅消失,行管再次击穿。再次更换行管,又更换了阻尼二极管,加电后严密监视行管温度,这回与上次差不多。在观察中突然发现在D804处有细小之火花出现,断电检查发现在D804与旁边之散热器之间有一小团絮状金属末。将其取出,加电拷机,该机一切恢复好。该机以前曾有人修过,看来这一小团金属丝可能是原检修者在拆装屏蔽铁板时新添之“副产品”。本例情况特殊,但也应属于人为因素吧。
实例5.一IBM2248显示器不亮,经检查发现行管击穿。用户反映这台显示器不久前曾因不亮修过,这回又旧病复发。更换行管后,加电拷机,短时间内未见异常,于是扣盖,继续观察。几十分钟后行管再次击穿,在检查了其它元件后,上好行管,加电观察。观察中发现有时光栅突然收缩,成一条垂直亮线。迅速关机,细致检查后发现CRT静电场消除线圈之插头P401与主板上之插座接触不好,打火,塑料部分焦化。处理后,该机恢复了好。CRT静电场消除线圈与行偏转线圈串接在一起,P401接触不良,打火,从而损坏行管。由上可见行偏转线圈回路打火是引发行管损坏之一个原因。
   实例6。一EMC
PA-564DA显示器刚开机瞬间有光栅并向垂直中心收缩,如此数次行管就会击穿。从故障现象上看似乎发生了X射线保护。检查中发现行二次电源用储能电容引脚锈蚀断了,更换后行电源电压平稳好。本例属于行电源引发电压异常升高,EMC其它机型也有相同问题,这应该是厂家选件把关不严。类似问题ADI也有发生。
  
实例7。一大众14CP显示器不亮,查行管及行电源管损坏,更换试机一切好,扣盖交付用户。第二天该机就被返回,仍是原故障。再次更换行管、电源管,试机一切好,交付用户,谁知第三天该机又被返回,用户发映这次开机一会就坏了,还是行管及电源管。我将检修费退给用户,不想修了,用户说就信任你了,放在你这,先不急呐。我静下来仔细考虑,发现这个故障好象与是否上后盖有关－上好后盖就出事。这是否是上好后盖后电路板受挤压,有元件开焊有关呢？经过一番仔细检查发现行场小信号处理IC
STV7778外围之一个电容引脚开焊,这个电容好象是振荡电容。补焊后,该机终于好了。该故障是14CP之通病。至于这当中之“至病”原因我还说不清楚,以前见过因行管基极严重接触不良造成行管击穿之,我想本例与之有类似之处
根据行管击穿之故障类型分根据行管击穿之故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行管击穿之故障类型分根据行管击穿之故障类型分：：
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表万用表测量其静态电阻，如果 CE阻值在数百欧姆，行管一般是
在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前需要有一定之时间积累。
如果 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外突然烧毁之，在烧毁之前没有异常
征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没有问题但没有规律某次开机时突然烧行管。
行管击穿检修之检修方法行管击穿检修之检修方法：：
1、   电流监测法
检测点：在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供电调整管滤波电容处，行包初级线圈后。
2、   电压万用表测量法
显示器之行激励供电因为显示器设计不同，有取自+12V，+45V，+80V等几种，显示器之行管有使用双极型之，也有使用场效应管之。
如果不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最好使用示波器万用表测量一下波形，同时长时间监测一下行管之温升。
3、   波形检测对比法
行场 IC 之 HOUT 端，行激励管之 C 极，行激励变压器之 34 脚，行管之 B极，行管之 C
极(要注意万用表测量方法)。这些关键点之波形一般是固定之，如果某点VPP
值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。如果某点之波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅速定位故障点，找出故障原因。

4、   温度万用表测量法
主要用于更换行管后，对行管之温度进行长时间监控，一般行管连续使用两70
度以下，基本都可以使用。注意测个小时以上，行管之温度不上升，保持在量时，要盖上后盖，不开盖之状态万用表测量与盖盖万用表测量温度会有不小之差异，要万用表测量时要注意与实际使用环境温度相当。
5、   元件替换排除法
对于判断行逆程电容容量减小之故障，可以采用电容并联法。
对于行管发热量大之问题，可以选用几个不同之行管（三代，四代，五代）
之行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小之选用。
行管击穿之原因分类行管击穿之原因分类：：
行管击穿之原因分类行管击穿之原因分类：：
1、   开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B+电压上升。如果 B+电压超过
10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器和脉宽控制电路之元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许之稳压值范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、   二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
好情况下，显示器开机时，由于缓启动电路之存在，B＋之电压是慢慢升高，而不是开机后直接跳为高电压。如果缓启动电容失容损坏，就会造成开机时电压立即跳升，同时电压不稳，容易造成烧行管。

还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异常。
3、   行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线之绝缘性能下降而产生局部短路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可与同型号好机器相比较，通过万用表测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散热片之温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击穿。
4、   行频过低
因为流过行偏转线圈电流之最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受之电流最大值时，使用行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于偏低状态。显示器之行频是由
MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产生，一般不会出现行频过低现象。
5、   行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高之反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出管，阻尼二极管等元件具有很高之耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管之耐压值，就会出现行管换一只烧一只之结果。此时，迅速用手摸行管之散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是因为逆程电容开路而引起之过压击穿。

解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、   行激励不足
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流过之不好工作状态，将造成行输出电路之功耗增加，引起行输出管发烫。一旦超过行管功耗之极限值，则会使用行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有之则开机就烧行管；有之过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察激励级之波形，可帮助找到故障原因。

造成行激励不足之原因有：行激励管性能不良；行激励变压器之供电电阻阻值增大；行激励变压器之周围元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上之滤波电容变质；行振荡电路之晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚之外接电容失效造成滤波不良。
7、   环境潮湿
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，或检修时行管与散热板上之固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终导致损坏行管。
8、   行偏转线圈开路
此时行扫描正程后半段行管导通之时间将会大于其截止时间，使用行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，检修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路之情况下，如果长时间通电检修，是极危险之。

9、   行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流而击穿。
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过流击穿。
10、   开关电源中之行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。
11、   行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造成瞬间之接通与截止，尖峰电压很容易烧毁电源管和行管。 12、   行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管或阻尼电阻之行管
我们在万用表测量行扫描电路之、关键点电压时，也要注意万用表测量方法，如果万用表测量方法不当也会瞬间烧行管。
13、   高压打火，也是造成行管损坏之一种原因
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质之老化，容易出现高压打火现象。高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高压嘴。