从设计上延长手机电池寿命

    好像手机电池之寿命还不够短，如果处理不好漏泄功率之话，频繁之充电可能会成为向高级处理系统之升级之障碍。 

　　正常操作时，当某个ic设备 处于激活状态（比如当某人正在使用手机打电话）时，它会产生动态功率。当该设备被关闭时，漏泄功率仍能将电池耗尽。在180、130、甚至90纳米工艺中，漏泄功率只就是动态功率之一小部分，这样当电池继续被消耗时，消耗速率极低。 

　　zenasis technologies之首席技术官兼董事会主席jay roy介绍说，以65与45纳米工艺生产出之设备，漏泄功率相当大。 

　　比如，如果一部手机三天没有充电而且仍能使用，假设每小时通话15分钟，如果漏泄功率翻一倍之话，电话之使用寿命会降到两天甚至更短。 

　　此外，如今手机设计中功率之高集中度导致设备自己发热，再加上设备之互连，使得芯片中温度变化显著。而包装技术也对降低这种变化没有能为力，尽管他们能降低芯片之平均温度。gradient电子设计自己化公司创始人、总裁兼ceo rajit chandra解释道。 

　　“温度之变化会极大程度地影响设备性能之发挥，特别就是在模拟电话中；同时电线中之电迁移也会由于温度上升而增加，从而从根本上降低产品寿命。”他说。 

　　此外，由于越来越多地采用电池供电之便携式电子系统，以及包装成本之不断增加，导致市场对那些在 低程度地消耗功率同时又能提供高性能之集成电路之需求迅猛增长。magma设计实施业务部门之产品经理arvind narasimhan表示。 

　　这些问题给努力满足功率预算之设计小组带来了大麻烦，因为对于电子没有线设备而言，通话时间、玩游戏与播放音乐之时

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